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四探针测试仪

发布时间: 2023-08-20 21:01:38 点击: 517
四探针测试仪是一种用于测量半导体材料电阻率以及薄层电阻的设备。它利用四探针法,在样品上逐渐减小两个外侧探针之间的距离,直到内侧探针上的电势变化为止。通过对测得的数据进行计算,可以得到样品的电阻率。该设备通常具有高精度和高分辨率,适用于各种半导体材料和器件的电学性质测量。四探针测试仪不仅可以测量材料的电阻率,还可以用于测试薄层电阻、方块电阻等。
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